Νέα προϊόντα! Το πακέτο εργαλείων εξαρτημάτων DL διευρύνει το φάσμα εφαρμογών. Μπορεί να ανιχνευτεί σε περιορισμένες περιοχές και σε κοκκινές επιφάνειες χρησιμοποιώντας ένα βροφύσιο ανίχνευσης μήκους ινών.

Εφαρμογή

• Εφαρμόζεται στα περισσότερα μέταλλα. Μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθεί για καμπύλες επιφάνειες δειγμάτων
• Σύμφωνα με τις μη καταστροφικές δοκιμές (NDT), η ανίχνευση κενών πρέπει να γίνεται σε όσο το δυνατόν μικρότερα μεταλλικά κομμάτια εργασίας
• Έλεγχος σκληρότητας σε προσυναρμολογημένα μηχανήματα ή σε μεγάλες κατασκευές χάλυβα και χύτευσης (π.χ. σε εργοστάσια χάλυβα)
• Μέτρηση σε περιορισμένο χώρο σε όλη την αλυσίδα της διαδικασίας (π.χ. εργαστήριο θερμικής επεξεργασίας)
• Γρήγορη ή χειροκίνητη καταγραφή δοκιμών αποδοχής και ελέγχου παραλαβής (π.χ. υποπρομηθευτές αυτοκινήτων)
• Δοκιμές εκτός πεδίου (π.χ. αγορά τεχνικών προϊόντων ή συμβουλές)

Χαρακτηριστικά

• Γρήγορη πλήρωση, μηχανισμός ενεργοποίησης και αυτόματη αντιστάθμιση της κατεύθυνσης κρούσης (360°)
• Ευρύ φάσμα μέτρησης με τις πιο κοινές κλίμακες σκληρότητας(HL, HV, HB, HRC, HRB, HS)
• Διαισθητική οθόνη που εμφανίζει εντυπωσιακά με μεγάλα γράμματα μια ανάγνωση + μέση τιμή της σειράς μέτρησης
• 2Συμφωνία1Γενικό:Equotip ΔΣεντέρ με ελαφρύτο DLΕύκολη εναλλαγή ακροφύσων (εξαρτήματα)
• Κυλί από σκληρό κράμα ψευδαργύρου – ανθεκτικό και μικρό
• Έξυπνος διακόπτης έναρξης / αναμονής για πλήρη παράταση της ζωής της μπαταρίας
• Με τη βοήθειατο USBΑπόΔιαδίκτυοΔωρεάν ενημέρωση του firmware

Παραλλαγές προϊόντων
το DLΤο κιτ εργαλείων εξαρτημάτων μπορεί να ανιχνεύσει σε περιορισμένες περιοχές χώρου χρησιμοποιώντας ένα βροφύσιο ανίχνευσης μήκους ινών, διευρύνονταςΤο Equotip Bambino 2πεδίο εφαρμογής.
Το ProceqΥπάρχουν διάφορες επιλογές δαχτυλίδων υποστήριξης που μπορούν να ανιχνευτούν σε επιφάνειες με διάφορα σχήματα.
Το ProceqΞεκίνησε επίσης έναΜπάμπινο 2Η προηγμένη έκδοσητο Equotip Piccolo 2Μπορεί να παρέχει περισσότερες στατιστικές στον υπολογιστή, περισσότερες μετατροπές και να αποθηκεύει και να διαχειρίζεται δεδομένα.

Εφαρμοστέα πρότυπα και κανονισμοί
ASTM A956 (2006)
DIN 50156 (2007)
Κατευθυντήρια γραμμή της GGZfP MC 1 (2008)
Κατευθυντήρια γραμμή VDI/VDE 2616 Έγγραφο 1 (2002)
ISO 18265 (2003)
GB/T 17394 (1998)
JB/T 9378 (2001)
JJG 747 (1999)
CNAL T0299 (2008)
JIS B7731 (2000)

Τεχνικοί δείκτες
Μέθοδος δοκιμήςΜέθοδος ανάδρασης Richter
Ενέργεια χτύπησης：11 Nmm (Ισοτύπος D)Τύπος ανιχνευτή)
Μπάλα: Ανθρακίδιο του βολφραμίου,3Διάμετρος χιλιοστών
Ελάχιστη αξία της ακτίνας καμπυλότητας της επιφάνειας：10χιλιοστά
Πεδίο δοκιμής：150 - 950Ρίτς(HL)
250 - 970 HLDL
Ανάλυση：1Ρίτς(HL);1Βίκερ(HV);1Μπους(ΧΒ);0.1ΡόξΓ (HRC);0.1ΡόξΒ (HRB)· 0.1Σάο(ΑΣ)
Ακριβότητα：± 4Ρίτς(Χλ) ((800Ρίτς(HL 0,5%)
Μέγεθος：147,5 Χ 44 Χ 20χιλιοστά(5,71 Χ 1,75 Χ 0,79)ίντσες)
Βάρος：110Κ
Υλικό περιβλήματος: αλουμίνιο αλουμινίου
ΟθόνηΜεγάλη οθόνη LCD υψηλής αντίθεσης
ΕπικοινωνίαΔεν ισχύει
Εφαρμογές για προσωπικούς υπολογιστέςΔεν ισχύει
μπαταρίεςΜπαταρία ιόντων λιθίου, φορτιζόμενη μέσω συσκευής USB
Μετά την πλήρη φόρτιση μπορεί να ξεπεράσει το κρούσμα:20000Επόμενο
Εξυπνότητα«Ενεργή κατάσταση» / «Στατική κατάσταση»
Θερμοκρασία περιβάλλοντος εργασίας: Μηδέν.10Κελσίου πάνω από το μηδέν. 60βαθμός Κελσίου (14βαθμός Φαρενχάιτ140βαθμός Φαρενχάιτ)
ΥγρασίαΥψηλότερο90%